관측된 공정 변동은 두 가지 요인으로 구성된다.
 • 부품-대-부품 변동 : 서로 다른 부품에 따른 측정값의 변동성이다.
   이상적인 경우, 부품 간(부품-대-부품) 차이로 변동을 대부분 설명할 수 있어야 한다.
 • 측정 시스템 변동 : 측정 공정과 관련된 모든 변동이다. 잠재적 변동 요인으로는 Gage,
   표준, 절차, 소프트웨어, 환경 요인 등이 있다.
 
 

 
 
다른 공정과 마찬가지로, 측정 시스템은 일반 원인 및 특수 원인 변동의 영향을 모두 받는다.
측정 시스템의 변동을 관리하려면 먼저 변동 요인을 확인한 후 다양한 원인을 제거하거나 줄여야 한다.

측정 시스템 변동은 다음의 두 가지 요인으로 나뉜다.

 • 반복성 : Gage로 인한 변동
 • 재현성 : 측정자로 인한 변동이다. 재현성의 원인은 두 가지로 나눌 수 있다.
   - 측정 시스템: 서로 다른 측정 시스템으로 인한 측정값의 변동성
   - 측정 시스템*부품: 부품과 측정 시스템을 별개로 고려한 후 서로 다른 측정 시스템/부품 조합으로
     인한 측정값의 변동성