Y=F(X's) ºÐ¼®À» ÅëÇÏ¿© ±¸ÇØÁö´Â ÀÎÀÚ°¡ Ç×»ó ¿¬¼ÓÇü DataÀÏ ¼ö´Â ¾ø´Ù
°æ¿ì¿¡ µû¶ó¼´Â ÀÌ»êÇü data¸¦ ÅëÇÏ¿© SystemÀÇ Ç°Áú¼öÁØÀ» ¿¹ÃøÇÏ´Â °æ¿ìµµ ¹ß»ýÇÏ°í,
½ÇÇè°èȹ¼ö¸³½Ã¿¡ ÀÌ»êÇü ÀÎÀÚÀÇ ¼öÁØÀ» °áÁ¤ÇÏ´Â °æ¿ìµµ ÈçÈ÷ ¹ß»ýÇÑ´Ù.
ÀÌ»êÇü Data¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ SystemÀÇ Ç°Áú¼öÁØÀº ¾î¶»°Ô ¿¬¼ÓÇüÀÇ °æ¿ì¿Í ¸Âºñ±³ÇÒ ¼ö ÀÖÀ»±î?
ÀÌ»êÇü Data·Î ºÎÅÍ ±¸ÇÑ dpo¸¦ Ç¥ÁØÈµÈ Z°ªÀ¸·Î º¯È¯ÇÏ´Â ¹æ¹ýÀ» ¾Ë¾Æº¸ÀÚ
100°³ÀÇ ºÒ·®ÀÌ ¹ß»ýÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ±âȸ¼ö(Opportunity)¸¦ °¡Áø ÀÚÀü°Å¸¦ ¸¸µå´Â "A" Process¿Í
1000°³ÀÇ ½Ç¼ö ±âȸ¼ö¸¦ °¡Áø ÀÚµ¿Â÷¸¦ ¸¸µå´Â "B" Process¿¡¼ ÀçÀÛ¾÷ ¾øÀÌ 90% ÃÖÁ¾ ¼öÀ²À» ¾ò¾ú´Ù¸é
°ú¿¬ ¾î¶² ½Ã½ºÅÛÀÇ Ç°Áú¼öÁØÀÌ ³ôÀ»±î?
´ç¿¬È÷ ½Ã½ºÅÛ "B" Process°¡ ³ôÀº ¼öÁØÀÌ µÇ¾î¾ß ÇÒ °ÍÀÌ´Ù.
¿©±â¼, D´Â °áÇÔ¼ö(Defect), U´Â ´ÜÀ§¼ö(Unit), O´Â ±âȸ¼ö(Opportunity), MÀº ¹é¸¸(Million)À» ÀǹÌÇÑ´Ù.
Áï, DPU´Â ´ÜÀ§´ç °áÇÔ¼ö(Defects per Unit), DPO´Â ½Ç¼ö±âȸ´ç °áÇÔ¼ö(Defects per Opportunity),
DPMO´Â ¹é¸¸ ±âȸ´ç °áÇÔ¼ö(Defects per Million Opportunity)¸¦ ÀǹÌÇÑ´Ù.
±×·¯¹Ç·Î DPMO = DPO*106, ±×¸®°í DPU = - ln(YRT)ÀÇ °ø½ÄÀ» Àû¿ë½ÃŲ´Ù.
DPU´Â °øÈ÷ 0.1054À̳ª ½Ã½ºÅÛ "A" ProcessÀÇ DPMO´Â 1000 ÀÌ°í ½Ã½ºÅÛ "B" ProcessÀÇ DPMO´Â 100 ÀÌ´Ù.
±×·¯¹Ç·Î ½Ã½ºÅÛ "B" Process°¡ ½Ã½ºÅÛ "A" Processº¸´Ù DPMO¿¡ ÀÖ¾î 10¹è ÁÁÀº Ç°Áú ¼öÁØÀ̶ó°í ¸»ÇÒ ¼ö ÀÖ´Ù.
Åë»ó DPMO´Â Sigma ¼öÁØÀ¸·Î ÀüȯµÇ¸ç, °è»êÇغ¸¸é ½Ã½ºÅÛ "A" ProcessÀÇ Ç°Áú¼öÁØÀº ZST°ªÀ¸·Î 4.59
½Ã½ºÅÛ "B" Process´Â ZST°ªÀÌ 5.22À¸·Î ±¸ÇØÁø´Ù.