Parametric test는 근거가 되는 시간과 고장의 분포형태가 알려져 있는 경우 사용되며
보다 올바르고 정확한 정보를 만들어 주고 Data의 범위 밖까지 예측이 가능하다

대표적인 Parametric test로서 Exponential test와 Weibull test가 있다.

먼저 Exponential test는 지수분포의 특성을 갖는 부품에 대한 신뢰성 Test 방법으로...
지수분포 (Exponential Distribution)는 모수가 하나뿐인 간단한 분포로서 일반적으로
신뢰도 데이터를 모형화하기 위해 사용되며 ß = 1 인 Weibull 분포의 특별한 경우이다.

지수분포는 제품 또는 품목이 새 것이거나, 1년 되었거나, 여러 해 되었거나 관계 없이
제품 또는 품목의 수명 단계에 대한 적절한 모형을 제공한다.
즉, 예상 사용 기간 동안 노화 및 마모되기 시작하기 전의 단계에 해당된다.

지수분포는 보통 설치된 제품의 예상 수명이 경과한 후에도 오랫동안 마모되지 않은
전기 부품을 모형화하는 데 사용된다. 예를 들면, 다이오드, 트랜지스터, 저항기, 축전기 등
고품질 집적 회로의 부품에 적용된다.

지수분포는 또한 욕조곡선의 중간 부분을 나타내는, 길고 상대적으로 일정하며
고장 위험이 낮은 기간에 대한 적합한 모형으로 간주되며 이 단계는 제품의 실제 사용 수명에
해당하며 곡선의 "본질적인 고장" 부분으로 알려져 있다.

그러나 지수분포는 볼 베어링, 특정 레이저나 필라멘트 등 제품의 예상 수명이 다하기 전에
피로, 부식 또는 마모를 보일 것으로 예상되는 기계 또는 전기 부품을 모형화하기 위해
사용해서는 안된다.

지수분포의 중요한 특성은 무기억(memoryless)이라는 것이다.
무기억(memoryless) 특성은 부품의 남은 수명이 현재까지 사용 기간과 무관함을 나타낸다.
예를 들어, 마모되거나 균열이 발생한 적이 있어 나중에 고장날 가능성이 높은 시스템은
무기억(memoryless)이 아니다.

Exponential Test는 시료수, 신뢰수준, 허용된 고장개수 등에 대하여 상호치환이 가능한
test 방법이며 즉, 총 시험시간을 증가시키기 위해서 고장 항목을 변경할 수 있다.
가장 보수적인 Parametric test 방법이다.

신뢰성 Test 방법으로 정시중단, 정수중단 시험이 있다.